一、概述

D型磁粉靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片，適用于零部件的磁粉探傷，在直檢中對幾何形復(fù)雜及不同材質(zhì)的工件，可正確的選擇磁化規(guī)范，可檢查探傷設(shè)備及磁懸液的性能，在磁粉探傷中可以避免漏檢，正確地知道探傷工所的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度所有質(zhì)量?？蓮V泛應(yīng)用于壓力容器、汽車零件、船舶制造、鑄、鍛、焊件、石油管道、發(fā)電設(shè)備及金屬焊接件、陶瓷、塑料、玻璃等領(lǐng)域。

C型磁粉靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片，適用于探傷面窄小，曲率半徑較小，不適用于A1型試片的情況下，可使用C型試片?？蓮V泛應(yīng)用于壓力容器、汽車零件、船舶制造、鑄、鍛、焊件、石油管道、發(fā)電設(shè)備及金屬焊接件、陶瓷、塑料、玻璃等領(lǐng)域。

A1型磁粉靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片，適用于連續(xù)磁粉探傷的驗(yàn)證及工作表面磁場強(qiáng)度的方向和大小，驗(yàn)證磁粉探傷的綜合性能?？蓮V泛應(yīng)用于壓力容器、汽車零件、船舶制造、鑄、鍛、焊件、石油管道、發(fā)電設(shè)備及金屬焊接件、陶瓷、塑料、玻璃等領(lǐng)域。

二、包裝