輕微影響涂層測厚儀的精度因素_有關(guān)說明

輕微影響涂層測厚儀的精度因素_有關(guān)說明

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對涂層測厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度

每一種涂層測厚儀有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量涂層測厚儀時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

8、附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須**附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

9、測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

10、測頭的取向

涂層測厚儀測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

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　　超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗(yàn)方法來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過**測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此試驗(yàn)方法測量?！　〕暡y厚儀每一種技術(shù)都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，對一個(gè)特定的應(yīng)用都應(yīng)該考慮選擇哪一種方法：　　超聲波測厚儀透過涂層測量優(yōu)點(diǎn)：　　1、能測量多種金屬厚度，具代表性的，在鋼中能從1mm到50mm　　2、只需要一個(gè)回波　　3、在點(diǎn)蝕情況能更**地測量剩余地*小厚度　　透過涂層測量缺點(diǎn)：　　1、涂層*薄為0.125mm　　2、涂層表面應(yīng)當(dāng)比較光滑　　3、需要使用2種特定探頭中地一個(gè)4，表面溫度大約為50℃或51.67℃　　回波——回波測量優(yōu)點(diǎn)：　　1、可使用多種普通探頭工作　　2、常能穿透粗糙表面涂層工作　　3、用適當(dāng)?shù)奶筋^能在接近500℃或498.89℃的高溫時(shí)工作　　回波——回波測量缺點(diǎn)：　　1、需要多次底面回波，在嚴(yán)重腐蝕的金屬中可能不存在多次底面回波　　2、厚度范圍比透過涂層測量限制更多。