1.光電直讀光譜儀的結構簡介 　　【*** 使用手冊】作為一款光譜分析儀器，光電直讀光譜儀是通過利用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發(fā)射光譜儀器。常見光電直讀光譜儀是由光源部分、聚光部分、分光部分和測光部分所組成。其中光源部分使試樣激發(fā)發(fā)光，然后通過聚光部分將發(fā)出的光聚集起來導入分光部分，然后分光部分再將光色散成各元素的譜線，而測光部分再用光電法測量各元素的譜線強度，將其測光讀數(shù)換算成為元素質量分數(shù)表示出來，然后記錄進行分析記錄。由于目前電感耦合高頻等離子體光源在業(yè)內的使用較為廣泛，因而光電直讀光譜儀也愈發(fā)突出其使用價值。以下根據(jù)網(wǎng)上資料，對常見光電直讀光譜儀的結構進行簡單介紹：　　1.光源發(fā)生器：用于光電光譜分析的光源發(fā)生器有火花發(fā)生器、電弧發(fā)生器和低壓電容器放電發(fā)生器等?！　?.光源的電極座：為了搭載塊狀試料、棒狀試料和對極。 塊狀的電極座一般可以放入直徑20 mm以上的平面試料，使用各種各樣的樣品夾具可以同時放入棒狀試料、小型試料和薄板試料。 在真空光電光譜儀中，光源的電極座具有使用氬氣氣氛的結構，氬氣流量可以由流量計和自動閥控制?！　?.聚光裝置：由聚光透鏡系統(tǒng)構成，其作用是收集光源的光，使其入射到分光系統(tǒng)。 在這個系統(tǒng)中，一般要求充分利用來自光源的光輻射，得到大的光強度的同時，充分發(fā)揮機器的功能，達到必要的分辨率。 通常，使用單透鏡成像法、三透鏡中間成像法、圓筒透鏡成像法，使來自光源的光在準直透鏡上成像?！　?.分光器：由入射狹縫、分光元件和出射狹縫系統(tǒng)構成，進入入射系統(tǒng)的光用分光元件進行分光，用出射狹縫系統(tǒng)選擇各元素的光譜。 因為鐵的光譜線很多，所以推薦使用大分散的分光元件。 分光器根據(jù)其內部是在真空下還是在非真空下，分為真空型和非真空型兩種?！　?.測光裝置：由光電子倍增管、積分單元、記錄器或指示器等構成。 內標線和分析線的光電子倍增管，將來自各自受光的出射狹縫的光變?yōu)殡娏?，分別充電至積分電容?！　?.真空型分光計的真空系統(tǒng)：硫、磷、碳、氮等元素的靈敏度線在200 nm以下的波段，由于這些波段的輻射被空氣吸收，因此需要將分光光度計的光學系統(tǒng)真空，進行這些元素的分析。 為了測定硫、磷、碳等元素，需要真空光電分光器。 真空光電分光器除了一般的光電分光器裝置以外，還需要追加真空系統(tǒng)和控制氣氛的2個裝置。　　除了上述部件外，根據(jù)實際使用情況，有些光電直讀光譜儀會有所不同，應根據(jù)相應說明書進行具體分析。 2.如何避免光電直讀光譜儀誤差？

光電直讀光譜儀是指應用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。如何避免光電直讀光譜儀誤差，具體操作如下，希望能給大家**的幫助：1、試樣表面要平整，當試樣放在電極架上時，不能有漏氣現(xiàn)象。如有漏氣，激發(fā)時聲音不正常。2、樣品與控制標樣的磨紋粗細要一致，不能有交叉紋，磨樣用力不要過大，而且用力要均勻，用力過大，容易造成試樣表面氧化。3、對高鎳鉻鋼磨樣時，要使用新砂輪片磨樣，磨紋操作要求更嚴格。4、試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試樣要有**的代表性。5、電極的**應具有**角度，使光軸不偏離**，放電間隙應保持不變，否則聚焦在分光儀的譜線強度會改變。多次重復放電以后，電極會長尖，改變了放電間隙。激發(fā)產生的金屬蒸氣也會污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極。6、透鏡內表面常常受到來自真空泵油蒸氣的污染，外表面受到分析時產生金屬蒸氣的附著，使透過率明顯降低，對波長小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過率影響更顯著，所以聚光鏡要進行定期清理。7、真空度不夠高會降低分析靈敏度， 特別是波長小于200nm的元素更明顯， 為此要求真空度達0.05mmHg。8、出射狹縫的位置變化受溫度的影響**，因此保持分光室內恒溫30℃很重要，還要求室內溫度保持一致，使出射狹縫不偏離正常。

3.如何避免光電直讀光譜儀誤差？ 如何避免光電直讀光譜儀誤差？

　　光電直讀光譜儀是指應用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位?！　∪绾伪苊夤怆娭弊x光譜儀誤差，具體操作如下，希望能給大家**的幫助：　　1、試樣表面要平整，當試樣放在電極架上時，不能有漏氣現(xiàn)象。如有漏氣，激發(fā)時聲音不正常?！　?、樣品與控制標樣的磨紋粗細要一致，不能有交叉紋，磨樣用力不要過大，而且用力要均勻，用力過大，容易造成試樣表面氧化。　　3、對高鎳鉻鋼磨樣時，要使用新砂輪片磨樣，磨紋操作要求更嚴格?！　?、試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試樣要有**的代表性?！　?、電極的**應具有**角度，使光軸不偏離**，放電間隙應保持不變，否則聚焦在分光儀的譜線強度會改變。多次重復放電以后，電極會長尖，改變了放電間隙。激發(fā)產生的金屬蒸氣也會污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極?！　?、透鏡內表面常常受到來自真空泵油蒸氣的污染，外表面受到分析時產生金屬蒸氣的附著，使透過率明顯降低，對波長小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過率影響更顯著，所以聚光鏡要進行定期清理?！　?、真空度不夠高會降低分析靈敏度， 特別是波長小于200nm的元素更明顯， 為此要求真空度達0.05mmHg?！　?、出射狹縫的位置變化受溫度的影響**，因此保持分光室內恒溫30℃很重要，還要求室內溫度保持一致，使出射狹縫不偏離正常。